产品型号

GPI XP/D 640 x 480 CCD 图像采集、

相移式干涉测量法基本型

系统

测量方法 激光3维相移干涉法 测量功能 精密测量各种不同反射面或光学面

的形貌及特性

测量光束直

径

4″(102 mm)

6″(152 mm)

配置 水平式,立式向下或立式向上

光学中心线 4.25″(108 mm)

对准系统 快速条纹采样系统(QFAS) (双光点

定位于十字线)

放大范围 6:1(非连续式放大,低失真)

调整可视范

围 4″: ±3° 6″: ±2 °

光曈调焦范

围 -800 mm/+1600 mm, 4″孔径

样件观察 计算机实时显示/单独监视器

计算机 DELL PC;配有硬盘,光驱,17英寸

液晶彩显,可选配打印机

立式4″: 73 Kg

立式6″: 77 Kg

性能参数

3平板测量

重复性1

λ/300 (2σ )

RMS 重复性2 λ/10,000 (2σ)

数据采样 640x480 像素,8位

可选:1K x 1K像素

分辨率 >λ/8,000

条纹分辨率3

180条纹

数据采样时

间

价格：面议成色：8~9成新

所在地：重庆交易地点：全国各地

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